Počet záznamů: 1
Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0352422 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 3 Zdroj.dok. Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010 - ISBN 978-85-63273-06-2 Rozsah stran s. 256-257 Poč.str. 2 s. Akce International Microscopy Congress (IMC17) /17./ Datum konání 19.09.2010-24.09.2010 Místo konání Rio de Janeiro Země BR - Brazílie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. BR - Brazílie Klíč. slova electron microscopy ; cathode lens ; slow backscattered electrons ; STEM ; VLESTEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Among traditional methods of the electron microscopy (EM) the transmission EM operates at highest energies of electrons and the sample used to be immersed in strong magnetic field. The emission EM has its sample emitting very slow electrons in strong electric field of the cathode lens (CL). The conventional scanning EM (SEM) worked in the medium energy range with the sample in a field free space. Immersion of the SEM sample into magnetic field (and correction of aberrations) improved the resolution up to observation of single atoms. When transferring the CL principle into the SEM we preserve a small primary spot down to lowest energies with the electric field strength as a factor limiting the resolution. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1