Počet záznamů: 1
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
- 1.
SYSNO ASEP 0352416 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM Tvůrce(i) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010 - ISBN 978-85-63273-06-2 Rozsah stran i3.7: 1-2 Poč.str. 2 s. Akce International Microscopy Congress (IMC17) /17./ Datum konání 19.09.2010-24.09.2010 Místo konání Rio de Janeiro Země BR - Brazílie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. BR - Brazílie Klíč. slova scanning electron microscopy ; crystallinic structure ; slow backscattered electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace An important role of the scanning electron microscopy (SEM) is to image and examine the local crystallinic structure of materials. As an alternative to the traditional EBSD method, suffering from slow data collection and limited lateral resolution, employment of very slow backscattered electrons (BSE) and of BSE leaving the sample at high angles with respect to the surface normal appears very promising. Neither of these signals is available in conventional SEM devices as the former species have insufficient energy to be detected while the later usually miss the detector. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1