Počet záznamů: 1  

Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM

  1. 1.
    SYSNO ASEP0352416
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevLow Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
    Tvůrce(i) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů4
    Zdroj.dok.Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010 - ISBN 978-85-63273-06-2
    Rozsah strani3.7: 1-2
    Poč.str.2 s.
    AkceInternational Microscopy Congress (IMC17) /17./
    Datum konání19.09.2010-24.09.2010
    Místo konáníRio de Janeiro
    ZeměBR - Brazílie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.BR - Brazílie
    Klíč. slovascanning electron microscopy ; crystallinic structure ; slow backscattered electrons
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPOE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    AnotaceAn important role of the scanning electron microscopy (SEM) is to image and examine the local crystallinic structure of materials. As an alternative to the traditional EBSD method, suffering from slow data collection and limited lateral resolution, employment of very slow backscattered electrons (BSE) and of BSE leaving the sample at high angles with respect to the surface normal appears very promising. Neither of these signals is available in conventional SEM devices as the former species have insufficient energy to be detected while the later usually miss the detector.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.