Počet záznamů: 1  

Study of Cu+, Ag+ and Au+ ion implantation into silicate glasses

    1.
    SYSNO ASEP0351912
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevStudy of Cu+, Ag+ and Au+ ion implantation into silicate glasses
    Tvůrce(i) Švecová, B. (CZ)
    Nekvindová, P. (CZ)
    Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Kolitsch, A. (DE)
    Machovič, V. (CZ)
    Stara, S. (CZ)
    Míka, M. (CZ)
    Špirková, J. (CZ)
    Celkový počet autorů9
    Zdroj.dok.Journal of Non-Crystalline Solids. - : Elsevier - ISSN 0022-3093
    Roč. 356, 44-49 (2010), s. 2468-2472
    Poč.str.5 s.
    AkceXII International Conference on the Physics of Non-Crystalline Solids
    Datum konání06.09.-09.09.2009
    Místo konáníFoz do Iguaçu, PR, Brazil
    ZeměBR - Brazílie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaIon implantation ; Silicate glasses ; Metal nanoparticles ; RBS
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    CEPLC06041 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GA106/09/0125 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
    UT WOS000285282100038
    DOI10.1016/j.jnoncrysol.2010.03.031
    AnotaceA study of the ion implantation of Cu+, Ag+ or Au+ ions into different types of silicate glasses is reported. The energy of the implanted ions was 330 keV and the implantation fluence was kept at 11016 cm-2. The samples were characterised by various analytical methods: Rutherford Backscattering Spectrometry for the concentration depth profiles of the implanted atoms, Raman spectroscopy for the structure of the samples and also by UV-VIS absorption spectroscopy. The obtained data were evaluated on the bases of the structure of the glass matrix and the relations between the structural changes and optical properties, important for photonics applications, were formulated. The main focus was the impact of various types and concentrations of glass network modifiers (e.g. Li, Na, K, Mg, Ca or Zn) as well as glass network formers (Si, B) on the projected range of the implanted ions.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše