Počet záznamů: 1
Determination of analytical expansion from numerical field data
- 1.
SYSNO ASEP 0350850 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Determination of analytical expansion from numerical field data Tvůrce(i) Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lencová, Bohumila (UPT-D) RID, SAICelkový počet autorů 2 Zdroj.dok. Ultramicroscopy. - : Elsevier - ISSN 0304-3991
Roč. 110, č. 9 (2010), s. 1198-1204Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova electron optics ; aberrations ; differential algebra method ; axial field derivatives Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650805 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) UT WOS 000281475700013 EID SCOPUS 77955510770 DOI 10.1016/j.ultramic.2010.04.018 Anotace We introduce a method of calculation of the analytical expansion of the field near the axis that is based on an application of Green's theorem. The approach is demonstrated on an example of a round electrostatic unipotential lens with field computed by the finite-element method and results are compared to methods of Hermite polynomials and wavelet transformation which are used in electron optics. The work is motivated by application to calculations of aberration coefficients where the high order axial field derivatives must be known. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1