Počet záznamů: 1

Ray tracing, aberration coefficients and intensity distribution

SYSNO ASEP	0350668
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Ray tracing, aberration coefficients and intensity distribution
Tvůrce(i)	Oral, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	1
Zdroj.dok.	Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. - Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 / Mika F. - ISBN 978-80-254-6842-5
Rozsah stran	s. 49-52
Poč.str.	4 s.
Akce	International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./
Datum konání	31.05.2010-04.06.2010
Místo konání	Skalský dvůr
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	ray tracing ; aberration coefficients ; intensity distribution
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	IAA100650805 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
UT WOS	000290773700018
Anotace	In particle optics paraxial ray tracing (solution of the paraxial trajectory equation) provides the basic imaging properties of an optical system and real ray tracing (solution of the equation of motion with time as the parameter) gives the complete particle paths including all aberrations. While there are methods of computing the aberration coefficients directly, for example by evaluating the aberration integrals, ray tracing can also be used for this purpose.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1