Počet záznamů: 1
Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0350413 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope Tvůrce(i) Kučera, Ondřej (URE-Y) RID Celkový počet autorů 1 Zdroj.dok. Radioengineering. - : VUT - ISSN 1210-2512
Roč. 19, č. 1 (2010), s. 168-171Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova atomic force microscopy Vědní obor RIV JB - Senzory, čidla, měření a regulace CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) UT WOS 000276841100027 EID SCOPUS 77956253917 Anotace Several applications of the atomic force microscopy (AFM), such as measurement of soft samples, manipulation with molecules, etc., require mechanical analysis of the AFM probe behavior. In this article we suggest the electrical circuit analogy to AFM cantilever tip motion. Well developed circuit theories in connection with fairly accessible software for circuit analysis make this alternative method easy to use for a wide community of AFM users. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1