Počet záznamů: 1
Influence of thickness on properties of YbxCo4Sb12 layers prepared by laser ablation
- 1.
SYSNO ASEP 0350340 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Influence of thickness on properties of YbxCo4Sb12 layers prepared by laser ablation Tvůrce(i) Zeipl, Radek (URE-Y)
Jelínek, M. (CZ)
Kocourek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Navrátil, Jiří (UMCH-V) RID
Yatskiv, Roman (URE-Y) RID, ORCID
Josieková, M. (CZ)
Leshkov, Sergey (URE-Y)
Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Walachová, Jarmila (URE-Y)Celkový počet autorů 9 Zdroj.dok. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. - : NATL INST OPTOELECTRONICS - ISSN 1454-4164
Roč. 12, č. 3 (2010), s. 572-575Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. RO - Rumunsko Klíč. slova thermoelectrics ; thin layers ; skutterudites Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA203/07/0267 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000277827900031 EID SCOPUS 77950648709 Anotace The influence of thickness on the thermoelectric properties of YbxCo4Sb12 layers prepared prepared by pulse laser deposition at substrate temperature during the deposition Ts=250 °C with energy density Ds=3 J/cm2. The thermoelectric properties such as the Seebeck coefficient, the electrical resistivity and the power factor of thin layers are presented in the temperature range from 300 K to 500 K and shoved oscillatory behavior with period of about 10 nm. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1