Počet záznamů: 1  

Deposition of hard thin films from HMDSO in atmospheric pressure dielectric barrier discharge

  1. 1.
    SYSNO ASEP0348989
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevDeposition of hard thin films from HMDSO in atmospheric pressure dielectric barrier discharge
    Tvůrce(i) Trunec, D. (CZ)
    Zajíčková, L. (CZ)
    Bursíková, V. (CZ)
    Studnička, F. (CZ)
    Sťahel, P. (CZ)
    Prysiazhnyi, V. (CZ)
    Peřina, Vratislav (UJF-V) RID
    Houdková, Jana (FZU-D) RID, ORCID
    Navrátil, Z. (CZ)
    Franta, D. (CZ)
    Zdroj.dok.Journal of Physics D-Applied Physics. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0022-3727
    Roč. 43, č. 22 (2010), 225403/1-225403/8
    Poč.str.8 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovaGLOW-DISCHARGE ; CHEMICAL-STRUCTURE ; PLASMA
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    CEZAV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
    AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000277871500011
    DOI10.1088/0022-3727/43/22/225403
    AnotaceAn atmospheric pressure dielectric barrier discharge burning in nitrogen with a small admixture of hexamethyldisiloxane (HMDSO) was used for the deposition of thin organosilicon films. The thin films were deposited on glass, silicon and polycarbonate substrates, and the substrate temperature during the deposition process was increased up to values within the range 25-150 degrees C in order to obtain hard SiOx-like thin films. The properties of the discharge were studied by means of optical emission spectroscopy and electrical measurements. The deposited films were characterized by the Rutherford backscattering and elastic recoil detection methods, x-ray photoelectron spectroscopy, infrared spectroscopy measurements, ellipsometry and the depth sensing indentation technique. It was found that the films' properties depend significantly on the substrate temperature at deposition.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.