Počet záznamů: 1
Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2
- 1.
SYSNO ASEP 0342573 Druh ASEP M - Kapitola v monografii Zařazení RIV C - Kapitola v knize Název Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM Tvůrce(i) Pou, P. (ES)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
Pérez, R. (ES)Zdroj.dok. Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2. - Berlin : Springer, 2009 / Morita S. ; Giessibl F.J. ; Wiesendanger R. - ISSN 1434-4904 - ISBN 978-3-642-01494-9 Rozsah stran s. 227-248 Poč.str. 22 s. Poč.str.knihy 401 Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova AFM ; DFT simulation ; atomic manipulation Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/09/0775 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) DOI 10.1007/978-3-642-01495-6_11 Anotace This work unveils the atomic-scale mechanisms that are responsible for the room temperature manipulations of strongly bound atoms on semiconductor surfaces. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1