Počet záznamů: 1
Electrophoresis deposition of metal nanoparticles with reverse micelles onto InP
- 1.
SYSNO ASEP 0341170 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Electrophoresis deposition of metal nanoparticles with reverse micelles onto InP Tvůrce(i) Žďánský, Karel (URE-Y)
Zavadil, Jiří (URE-Y) RID
Kacerovský, Pavel (URE-Y)
Lorinčík, Jan (URE-Y)
Vaniš, Jan (URE-Y) RID
Kostka, František (URE-Y)
Černohorský, O. (CZ)
Fojtík, A. (CZ)
Reboun, J. (CZ)
Čermák, Jan (FZU-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. International Journal of Materials Research. - : Walter de Gruyter - ISSN 1862-5282
Roč. 100, č. 9 (2009), s. 1234-1238Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova semiconductor junctions ; nanostructures ; semiconductor devices Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) AV0Z50200510 - MBU-M (2005-2011) AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000270671600019 DOI 10.3139/146.110178 Anotace Nanolayers were deposited onto surfaces of n-type InP single crystal wafers by electrophoresis from reverse micelle colloid solutions containing palladium nanoparticles. Two types of nanolayers were deposited, by applying a positive potential or a negative potential on the InP wafer. The nanolayers were studied by capacitance–voltage characteristics, atomic force microscopy, secondary-ion mass spectroscopy and current–voltage characteristics. Correlations among measured characterizations were found. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1