Počet záznamů: 1

Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films

SYSNO ASEP	0340747
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Hovorka, Miloš (UPT-D) Hanzlíková, Renáta (UPT-D) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	4
Zdroj.dok.	Materials Transactions. - : Japan Institute of Metals and Materials - ISSN 1345-9678 Roč. 51, č. 2 (2010), s. 265-270
Poč.str.	6 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	JP - Japonsko
Klíč. slova	low energy scanning electron microscopy ; thin foils ; transmission of very slow electrons
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
UT WOS	000276538900014
EID SCOPUS	77949670967
DOI	10.2320/matertrans.MC200915
Anotace	Instrument and methodology is presented for very low energy scanning transmission electron microscopy. The detector system provides simultaneous acquisitions of total reflected and transmitted electron fluxes. Introductory experiments incorporated examination of ultrathin foils of gold, carbon and graphene flakes. Extremely sensitive thickness contrast obtained at units of eV is demonstrated. The phenomenon of electron transmissivity apparently exceeding 100% owing to the contribution of secondary electrons released near to the exit surface is described and discussed.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2010

Počet záznamů: 1