Počet záznamů: 1
Structure, electrical, optical and thermal properties of Ge4Sb4Tex(x=8,9 and10) thin films
- 1.
SYSNO ASEP 0340236 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Structure, electrical, optical and thermal properties of Ge4Sb4Tex(x=8,9 and10) thin films Tvůrce(i) Přikryl, J. (CZ)
Hrdlička, M. (CZ)
Frumar, M. (CZ)
Orava, J. (CZ)
Beneš, L. (CZ)
Vlček, Milan (UMCH-V) RID, ORCID
Kostal, P. (CZ)
Hromádko, T. (CZ)
Wágner, T. (CZ)Celkový počet autorů 9 Zdroj.dok. Journal of Non-Crystalline Solids. - : Elsevier - ISSN 0022-3093
Roč. 355, 37-42 (2009), s. 1998-2002Poč.str. 5 s. Akce International Symposium on Non-Oxide and New Optical Glasses Datum konání 20.04.2008-25.04.2008 Místo konání Montpellier Země FR - Francie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova chalcogenide thin films ; crystallization Vědní obor RIV CA - Anorganická chemie CEP GA203/06/0627 GA ČR - Grantová agentura ČR UT WOS 000270620900052 DOI 10.1016/j.jnoncrysol.2009.05.070 Anotace The crystalline samples were prepared and their amorphous semiconducting thin films obtained by flash evaporation. The films were crystallized by a short laser pulses or slowly by annealing. The electrical and optical properties of layers prepared were measured. Pracoviště Ústav makromolekulární chemie Kontakt Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1