Počet záznamů: 1  

Decomposition of mixed phase silicon Raman spectra

  1. 1.
    SYSNO ASEP0339516
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevDecomposition of mixed phase silicon Raman spectra
    Tvůrce(i) Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
    Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID
    Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology — 2009. - Warrendale, PA : Materials Research Society, 2009 / Flewitt A. ; Wang Q. ; Hou J. ; Uchikoga S. ; Nathan A. - ISBN 978-1-60511-126-1
    Rozsah strans. 15-20
    Poč.str.6 s.
    AkceMRS spring meating 2009
    Datum konání13.04.2009-17.04.2009
    Místo konáníSan Francisco, CA
    ZeměUS - Spojené státy americké
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaRaman spectroscopy ; silicon thin films ; photovoltaics
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPLC06040 GA MŠk - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
    LC510 GA MŠk - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
    AnotaceSeries of Raman spectra were measured for microcrystalline silicon thin film with variable crystallinity. Five sets of Raman spectra (corresponding to excitations at 325 nm, 442 nm, 514.5 nm, 632.8 nm and 785 nm wavelengths) were subjected to factor analysis which showed that each set of spectra consisted of just two independent spectral components. Decomposition of the measured Raman spectra into the amorphous and the microcrystalline components is illustrated for 514.5 nm and 632.8 nm excitations. Effect of the light scattering on absolute intensity of Raman spectra was identified even for excitation wavelength highly absorbed in the mixed phase silicon layers.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2010
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.