Počet záznamů: 1
Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass
- 1.
SYSNO ASEP 0337793 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass Tvůrce(i) Hudec, René (ASU-R) RID, ORCID
Maršíková, V. (CZ)
Míka, M. (CZ)
Sik, J. (CZ)
Lorenz, M. (CZ)
Pína, L. (CZ)
Inneman, A. (CZ)
Skulinová, Michaela (ASU-R)Zdroj.dok. Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IV. - Bellingham : SPIE, 2009 / O'Dell S. - ISSN 0277-786X - ISBN 9780819477279 Rozsah stran 74370s-1-74370s-12 Poč.str. 12 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy /4./ Datum konání 31.08.2009-31.08.2009 Místo konání San Diego Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova x-ray optics ; Si wafers Vědní obor RIV BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika CEP GP202/07/P510 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10030501 - ASU-R (2005-2011) Anotace We report on the continuation of the development of test samples of astronomical x-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Pracoviště Astronomický ústav Kontakt Radka Svašková, bibl@asu.cas.cz, Tel.: 323 620 326 Rok sběru 2015
Počet záznamů: 1