Počet záznamů: 1
Lu.sub.3./sub.Al.sub.5./sub.O.sub.12./sub.-based materials for high 2D-resolution scintillation detectors
- 1.
SYSNO ASEP 0337539 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Lu3Al5O12-based materials for high 2D-resolution scintillation detectors Překlad názvu Lu3Al5O12 materiály pro 2D scintilační detektory s vysokým rozlišením Tvůrce(i) Nikl, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Touš, J. (CZ)
Mareš, Jiří A. (FZU-D) RID, ORCID
Průša, Petr (FZU-D) RID, ORCID
Mihóková, Eva (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Blažek, K. (CZ)
Vedda, A. (IT)
Zorenko, Y. (UA)
Gorbenko, V. (UA)
Babin, V. (EE)Zdroj.dok. Non-Intrusive Inspection Technologies II. - Bellingham : SPIE, 2009 / Blackburn B.W. - ISSN 0277-786x - ISBN 9780819475763 Rozsah stran 731008/1-731008/10 Poč.str. 10 s. Akce Defense, Security, and Sensing 2009 Datum konání 13.04.2009-17.04.2009 Místo konání Orlando Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova thin scintillator films ; 2D imaging ; Ce-doped Lu3Al5O12(LuAG) ; liquid phase epitaxy growth ; thermoluminescence Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP KAN300100802 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Anotace About 20μm thick Ce-doped Lu3Al5O12 thin films grown by Liquid Phase Epitaxy and thin plates of similar thickness prepared by mechanical cutting and polishing from Czochralski grown crystals are used in 2D imaging experiment down to μm resolution. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1