Počet záznamů: 1
Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser
- 1.
SYSNO ASEP 0336007 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser Překlad názvu Optická emisní spektroskopie různých materiálů ozářených rentgenovým laserem s volnými elektrony Tvůrce(i) Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Rosmej, F.B. (FR)
Renner, Oldřich (FZU-D) RID, ORCID
Saksl, K. (SK)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Galtier, E. (FR)
Schott, R. (FR)
Khorsand, A.R. (NL)
Riley, D. (GB)
Dzelzainis, T. (GB)
Nelson, A. (US)
Lee, R. W. (US)
Heimann, P. (US)
Nagler, B. (GB)
Vinko, S. (GB)
Wark, J. (GB)
Whitcher, T. (GB)
Toleikis, S. (DE)
Tschentscher, T. (DE)
Fäustlin, R. (DE)
Wabnitz, H. (DE)
Bajt, S. (DE)
Chapman, H. (DE)
Krzywinski, J. (US)
Sobierajski, R. (PL)
Klinger, D. (PL)
Jurek, M. (PL)
Pelka, J. (PL)
Hau-Riege, S. (US)
London, R.A. (US)
Kuba, J. (CZ)
Stojanovic, N. (DE)
Sokolowski-Tinten, K. (DE)
Gleeson, A.J. (GB)
Störmer, M. (DE)
Andreasson, J. (SE)
Hajdu, J. (SE)
Timneanu, N. (SE)Zdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. - ISSN 0277-786x - ISBN 9780819476357 Rozsah stran 73610p/1-73610p/10 Poč.str. 10 s. Akce Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II Datum konání 21.04.2009-23.04.2009 Místo konání Prague Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova optical emission spectroscopy ; free-electron laser ; atomic lines ; plasma plume ; warm dense matter Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Anotace The beam of Free-Electron Laser in Hamburg (FLASH) tuned at either 32.5 nm or 13.7 nm was focused by a grazing incidence elliptical mirror and an off-axis parabolic mirror coated by Si/Mo multilayer on 20-micron and 1-micron spot, respectively. The grazing incidence and normal incidence focusing of ~10-fs pulses carrying an energy of 10 μJ lead at the surface of various solids (Si, Al, Ti, Ta, Si3N4, BN, a-C/Si, Ni/Si, Cr/Si, Rh/Si, Ce:YAG, poly(methyl methacrylate) - PMMA, stainless steel, etc.) to an irradiance of 1013 W/cm2 and 1016 W/cm2, resp. The optical emission of the plasmas produced under these conditions was registered. Surprisingly, only lines belonging to the neutral atoms were observed at intensities around 1013 W/cm2 and 1016 W/cm2, resp. No lines of atomic ions have been identified in UV-vis spectra emitted from the plasmas formed by the FLASH beam focused in a 20-micron spot. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1