Počet záznamů: 1
Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam
- 1.
SYSNO ASEP 0336002 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam Překlad názvu Mikrofokusace svazku měkkého rentgenového laseru s volnými elektrony Tvůrce(i) Bajt, S. (DE)
Chapman, H.N. (DE)
Nelson, A.J. (US)
Lee, R. W. (US)
Toleikis, S. (DE)
Mirkarimi, P. (US)
Alameda, J.B. (US)
Baker, S. L. (US)
Vollmer, H. (US)
Graff, R.T. (US)
Aquila, A. (US)
Gullikson, E.M. (US)
Meyer Ilse, J. (US)
Spiller, E.A. (US)
Krzywinski, J. (US)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Hajdu, J. (SE)
Tschentscher, T. (DE)Zdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. - ISSN 0277-786x - ISBN 9780819476357 Rozsah stran 73610j/1-73610j/10 Poč.str. 10 s. Akce Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II Datum konání 21.04.2009-23.04.2009 Místo konání Prague Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova microfocuses ; multilayer mirror ; free electron laser beam Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Anotace A multilayer-coated 27-cm focal length parabola, optimized to reflect 13.5 nm wavelength at normal incidence, was used in multiple FLASH experiments and focused the beam to a sub-micron beam size. The intensity of the beam was measured indirectly from the depths of craters left by the FLASH beam on PMMA-coated substrates. Comparing simulated and experimental shapes of the craters we found the best match for a wavefront error of 0.45 nm, or λ/30. We further estimated that the FWHM of the focal spot was 350 nm and that the intensity in the focus was 1018 W/cm2. The sub-micron FLASH beam provided extreme intensity conditions essential for warm dense matter experiments. The same optic was used in multiple experiments and survived the beam. However, after the first measurements, which took place over several days, the optical surface was contaminated. This contamination reduced the mirror reflectivity, which was partially recovered by oxygen plasma cleaning. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1