Počet záznamů: 1
Damage studies of multilayer optics for XUV free electron lasers
- 1.
SYSNO ASEP 0335976 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Damage studies of multilayer optics for XUV free electron lasers Překlad názvu Poškození mnohovrstvé optiky indukované XUV laserem s volnými elektrony Tvůrce(i) Louis, E. (NL)
Khorsand, A.R. (NL)
Sobierajski, R. (PL)
van Hattum, E.D. (NL)
Jurek, M. (PL)
Klinger, D. (PL)
Pelka, J. B. (PL)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Jastrow, U. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Wabnitz, H. (DE)
Tiedtke, K.I. (DE)
Gaudin, J. (DE)
Gullikson, E.M. (US)
Bijkerk, F. (NL)Zdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. - ISSN 0277-786x - ISBN 9780819476357 Rozsah stran 73610i /1-73610i /6 Poč.str. 6 s. Akce Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II Datum konání 21.04.2009-23.04.2009 Místo konání Prague Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova multilayer mirror ; radiation damage ; soft x-rays ; free-electron laser Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Anotace We exposed standard Mo/Si multilayer coatings, optimized for 13.5 nm radiation to the intense femtosecond XUV radiation at the FLASH free electron laser facility at intensities below and above the multilayer ablation threshold. The interaction process was studied in-situ with reflectometry and time resolved optical microscopy, and ex-situ with optical microscopy (Nomarski), atomic force microscopy and high resolution transmission electron microscopy. From analysis of the size of the observed craters as a function of the pulse energy the threshold for irreversible damage of the multilayer could be determined to be 45 mJ/cm2. The damage occurs on a longer time scale than the XUV pulse and even above the damage threshold XUV reflectance has been observed showing no measurable loss up to a power density of 1013 W/cm2. A first explanation of the physics mechanism leading to damage is given. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1