Počet záznamů: 1

Damage thresholds of various materials irradiated by 100-ps pulses of 21.2-nm laser radiation

SYSNO ASEP	0335777
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Damage thresholds of various materials irradiated by 100-ps pulses of 21.2-nm laser radiation
Překlad názvu	Prahy poškození různých materiálů ozářených 100-ps pulzy laserového záření o vlnové délce 21,2 nm
Tvůrce(i)	Hájková, Věra (FZU-D)_{RID, ORCID} Chalupský, Jaromír (FZU-D)_{RID, ORCID} Wabnitz, H. (DE) Feldhaus, J. (DE) Störmer, M. (DE) Hecquet, Ch. (FR) Mocek, Tomáš (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kozlová, Michaela (FZU-D)_{RID, ORCID} Polan, Jiří (FZU-D) Homer, Pavel (FZU-D)_RID Rus, Bedřich (FZU-D)_ORCID Juha, Libor (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. - ISSN 0277-786x - ISBN 9780819476357
Rozsah stran	736110/1-736110/6
Poč.str.	6 s.
Akce	Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II
Datum konání	21.04.2009-23.04.2009
Místo konání	Prague
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	soft x-ray laser ; damage to x-ray optics ; laser ablation ; damage thresholds ; single-shot damage
Vědní obor RIV	BH - Optika, masery a lasery
CEP	KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011)
Anotace	Irradiation experiments were conducted at Prague Asterix Laser System (PALS) with the Ne-like zinc soft x-ray laser (SXRL) at 21.2 nm (58.5 eV) delivering up to 4 mJ (~4 x 1014 photons), 100-ps pulses in a narrowly collimated beam. The thresholds determined with the 100-ps pulses from the plasma-based, quasi-steady state SXRL are significantly higher than the thresholds obtained for 20-fs pulses provided by the SXR free-electron laser in Hamburg. There is a difference in PMMA thresholds of two orders of magnitude for these two sources.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2010

Počet záznamů: 1