Počet záznamů: 1
Formation of optical gradient in chemical solution-derived PbZr.sub.0.52./sub.Ti.sub.0.48./sub.O.sub.3./sub. thin films: spectroscopic ellipsometry investigation
- 1.
SYSNO ASEP 0335693 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Formation of optical gradient in chemical solution-derived PbZr0.52Ti0.48O3 thin films: spectroscopic ellipsometry investigation Překlad názvu Tvorba optického gradientu v CSD PbZr0.52Ti0.48O3 tenkých vrstvách: spektrální elipsometrie Tvůrce(i) Aulika, I. (LT)
Corkovic, S. (GB)
Bencan, A. (SI)
D' Astorg, S. (GB)
Dejneka, Alexandr (FZU-D) RID, ORCID
Zhang, Q. (GB)
Kosec, M. (SI)
Zauls, V. (LT)Zdroj.dok. Journal of the Electrochemical Society. - : Electrochemical Society - ISSN 0013-4651
Roč. 156, č. 12 (2009), G217-G225Poč.str. 9 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova optical gradient ; PZT Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GC202/09/J017 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000271218900051 DOI 10.1149/1.3240580 Anotace Investigation using a variable angle spectroscopic ellipsometer revealed the influence of sample preparation conditions on sol–gel PbZr0.52Ti0.48O3 thin-film homogeneity that allows identification and further optimization of thin-film performance. Separate crystallization of the layers determined the optical gradient appearance, irrespective of the chemical solvents used in this work. A more refined analysis showed that a refractive index gradient was apparent in the samples in which lattice parameters strongly changed with thickness. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1