Počet záznamů: 1

Mapping the Local Density of States by Very Low Energy Scanning Electron Microscope

SYSNO ASEP	0335298
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Mapping the Local Density of States by Very Low Energy Scanning Electron Microscope
Tvůrce(i)	Pokorná, Zuzana (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	2
Zdroj.dok.	Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). - Brno : ISI AS CR, 2009 / Pokorná Zuzana ; Mika Filip - ISBN 978-80-254-4535-8
Rozsah stran	s. 26
Poč.str.	1 s.
Akce	CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./
Datum konání	10.08.2009-14.08.2009
Místo konání	Brno
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	scanning low energy electron microscopes ; polycrystalline aluminium
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	Single crystal and polycrystalline aluminium samples were imaged in the scanning low energy electron microscopes at energies of impinging electrons ranging between 0 and 90 eV. The integrated image signal at each energy was calculated and the resulting reflectance curves were compared to electron structure calculations. The influence of vacuum conditions and cleanliness of the substrate surface are discussed.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1