Počet záznamů: 1

Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy

SYSNO ASEP	0335297
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matsuda, K. (JP) Horiba, K. (JP) Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	5
Zdroj.dok.	Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). - Brno : ISI AS CR, 2009 / Pokorná Zuzana ; Mika Filip - ISBN 978-80-254-4535-8
Rozsah stran	s. 21
Poč.str.	1 s.
Akce	CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./
Datum konání	10.08.2009-14.08.2009
Místo konání	Brno
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	EBSD ; SEM ; grains orientation ; Al-Mg-Si-Mn alloy
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	Electron Backscatter Diffraction (EBSD) is a technique allowing the crystallographic infomiation to be obtained from samples in the scanning electron microscope (SEM). The main disadvantages of this method include the specimen tilt by 70°, requiring to operate at large working distances and hence with reduced lateral resolution, and a long acquisition time needed to obtain the full infomnation about grain orientations. However, the crystal orientation can be recognized upon energy dependence of the electron reflectance in the very low energy range. Information can be acquired at a high lateral resolution, high contrast and short acquisition time in a dedicated SEM equipped by the cathode lens.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1