Počet záznamů: 1
Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0335296 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). - Brno : ISI AS CR, 2009 / Pokorná Zuzana ; Mika Filip - ISBN 978-80-254-4535-8 Rozsah stran s. 22 Poč.str. 1 s. Akce CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./ Datum konání 10.08.2009-14.08.2009 Místo konání Brno Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova transmission electron microscope ; scanning low energy electron microscopes Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1