Počet záznamů: 1
Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0335266 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope Tvůrce(i) Čudek, P. (CZ)
Jirák, Josef (UPT-D) RID
Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 3 Zdroj.dok. MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. - Graz : Verlag der Technischen Universität, 2009 - ISBN 978-3-85125-062-6 Rozsah stran vol. 1: 221-222 Poč.str. 2 s. Akce MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./ Datum konání 30.08.2009-04.09.2009 Místo konání Graz Země AT - Rakousko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. AT - Rakousko Klíč. slova scintillation SE detector ; variable pressure SEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Detection of signal electrons at a higher pressure in the specimen chamber is commonly based on ionization and scintillation type of detectors. At the ionization detector secondary and backscattered electrons are amplified in the process of impact ionization of these electrons with atoms and molecules of gases in the specimen chamber. Electrons are subsequently detected by an electrode system of the detector. Voltage up to several hundred volts is added to the electrodes of the detector to give to secondary electrons and to electrons produced at ionization collisions sufficient energy needed for ionization of gases. Last versions of this detector utilize also magnetic field and detect preferentially secondary electrons. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1