Počet záznamů: 1
Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0334118 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy Překlad názvu Poškození pevné látky ozářené jednotlivým impulzem XUV laseru s volnými elektrony: nevratné změny povrchu sledované pomocí rtg. mikrodifrakce, mikroskopie atomárních sil a Nomarského optické mikroskopie Tvůrce(i) Pelka, J. B. (PL)
Sobierajski, R. (PL)
Klinger, D. (PL)
Paszkowicz, W. (PL)
Krzywinski, J. (PL)
Jurek, M. (PL)
Zymierska, D. (PL)
Wawro, A. (PL)
Petroutchik, A. (PL)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Burian, T. (CZ)
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Toleikis, S. (DE)
Sokolowski-Tinten, K. (DE)
Stojanovic, N. (DE)
Zastrau, U. (DE)
London, R. (US)
Hau-Riege, S. (US)
Riekel, C. (FR)
Davies, R. (FR)
Burghammer, M. (FR)
Dynowska, E. (PL)
Szuszkiewicz, W. (PL)
Caliebe, W. (DE)
Nietubyc, R. (PL)Zdroj.dok. Radiation Physics and Chemistry. - : Elsevier - ISSN 0969-806X
Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S46-S52Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova XUV FEL ; radiation damage ; ablation ; structure modifications ; x-ray diffraction Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000270692000011 DOI 10.1016/j.radphyschem.2009.06.006 Anotace The article presents preliminary investigation results on the near-surface damage produced by single pulses of XUV free-electron laser in the amorphous alpha-SiO2, the monocrystalline silicon and the epitaxial films of gold. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1