Počet záznamů: 1
Structural characteristics and morphology of Sm.sub.x./sub.Ce.sub.1-x./sub.O.sub.2-x/2./sub. thin films
- 1.
SYSNO ASEP 0331678 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Structural characteristics and morphology of SmxCe1-xO2-x/2 thin films Tvůrce(i) Hartmanová, M. (SK)
Jergel, M. (SK)
Mansilla, C. (ES)
Holgado, J.P. (ES)
Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kundracik, F. (SK)Celkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Applied Surface Science. - : Elsevier - ISSN 0169-4332
Roč. 255, č. 22 (2009), s. 9085-9091Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova structure ; morphology ; thin films ; Ce02 ; Sm2O3 Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000269075700023 DOI 10.1016/j.apsusc.2009.06.108 Anotace Effect of the deposition temperature and composition of SmxCe1-xO2-x/2 thin films on structural characteristics and morphology/microstructure was investigated. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1