Počet záznamů: 1
Surface analysis by imaging mass spectrometry
- 1.
SYSNO ASEP 0330419 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Surface analysis by imaging mass spectrometry Překlad názvu Povrchová analýza pomocí zobrazovací hmotnostní spektrometrie Tvůrce(i) Vidová, Veronika (MBU-M)
Volný, Michael (MBU-M) ORCID
Lemr, Karel (MBU-M) RID, ORCID
Havlíček, Vladimír (MBU-M) RID, ORCIDZdroj.dok. Collection of Czechoslovak Chemical Communications. - : Ústav organické chemie a biochemie AV ČR, v. v. i. - ISSN 0010-0765
Roč. 74, 7-8 (2009), s. 1101-1116Poč.str. 16 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova secondary ion mass spectrometry ; matrix assisted laser desorption ionization ; mass spectrometry Vědní obor RIV CB - Analytická chemie, separace CEZ AV0Z50200510 - MBU-M (2005-2011) UT WOS 000269891900007 DOI 10.1135/cccc2009028 Anotace A review of four MS-based technmiques availablw for molecular surface imaging is presented. The maind focus is on the commercially available mass spectrometry imaging techniques: secondary ion mass-spectrometry (SIMS) Pracoviště Mikrobiologický ústav Kontakt Eliška Spurná, eliska.spurna@biomed.cas.cz, Tel.: 241 062 231 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1