Počet záznamů: 1  

Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy

  1. 1.
    SYSNO ASEP0328715
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevStructure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy
    Překlad názvuStruktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil
    Tvůrce(i) Pou, P. (ES)
    Ghasemi, S.A. (CH)
    Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
    Lenosky, T. (US)
    Goedecker, S. (CH)
    Perez, R. (ES)
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.Nanotechnology. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0957-4484
    Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10
    Poč.str.10 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovaAFM ; first principles simulations ; DFT ; force spectroscopy
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPKAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
    IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000266900800016
    DOI10.1088/0957-4484/20/26/264015
    AnotaceHere we present a detailed and systematic study of the most common structures that can be expected at the apex of the Si tips used in experiments.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2010
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.