Počet záznamů: 1
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0328715 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy Překlad názvu Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil Tvůrce(i) Pou, P. (ES)
Ghasemi, S.A. (CH)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
Lenosky, T. (US)
Goedecker, S. (CH)
Perez, R. (ES)Celkový počet autorů 6 Zdroj.dok. Nanotechnology. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0957-4484
Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10Poč.str. 10 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova AFM ; first principles simulations ; DFT ; force spectroscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000266900800016 DOI 10.1088/0957-4484/20/26/264015 Anotace Here we present a detailed and systematic study of the most common structures that can be expected at the apex of the Si tips used in experiments. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1