Počet záznamů: 1  

Characterisation of Ni+ implanted PEEK, PET and PI

  1. 1.
    SYSNO ASEP0324684
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JOstatní články
    NázevCharacterisation of Ni+ implanted PEEK, PET and PI
    Překlad názvuCharakterizace polymerů PEEK, PET a PI implantovaných Ni+ ionty
    Tvůrce(i) Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Bočan, Jiří (UJF-V)
    Khaibulline, R. (RU)
    Valeev, V. F. (RU)
    Slepička, P. (CZ)
    Sajdl, P. (CZ)
    Švorčík, V. (CZ)
    Celkový počet autorů7
    Zdroj.dok.Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. - : Elsevier - ISSN 0168-583X
    Roč. 267, - (2009), s. 1549-1552
    Poč.str.4 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaIon implantation ; Polymers ; TRIDYN ; RBS ; XPS ; Depth profiles
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    CEPLC06041 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    KJB100480601 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
    AnotacePolyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK) and polyethyleneterephthalate (PET) were implanted with 40 keV Ni+ ions at room temperature at fluences ranging from 10^16 to 1.5x10^17 ions cm-2. The depth profiles of the implanted Ni atoms were determined by the RBS technique and compared with those predicted by the SRIM and TRIDYN codes. Hydrogen depletion as a function of the ion fluence was determined by the ERDA technique, and the compositional and structural changes of the polymers were characterised by the UV–vis and XPS methods. The implanted profiles differed significantly from those predicted by the SRIM code while the lower fluences were satisfactorily described by the TRIDYN simulation. A significant hydrogen release from the polymer surface layer was observed along with significant changes in the surface layer composition. The UV–vis results indicated an increase of the concentration of double bonds, XPS showed increasing concentration Ni0+ with the increasing ion fluence.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2009
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.