Počet záznamů: 1
Optical gradient of the trapezium-shaped NaNbO.sub.3./sub. thin films studied by spectroscopic ellipsometry
- 1.
SYSNO ASEP 0324122 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Optical gradient of the trapezium-shaped NaNbO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry Překlad názvu Optický gradient trapeciálních tenkých vrstev NaNbO3 zkoumaných pomocí spektroskopické elipsometrie Tvůrce(i) Aulika, I. (LT)
Deyneka, Alexander (FZU-D)
Zauls, V. (LT)
Kundzins, K. (LT)Zdroj.dok. Journal of the Electrochemical Society. - : Electrochemical Society - ISSN 0013-4651
Roč. 155, č. 10 (2008), G209-G213Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova thin films ; ellipsometry ; optical gradient Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP KJB100100703 GA AV ČR - Akademie věd GA202/08/1009 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000258976500052 DOI 10.1149/1.2965786 Anotace Ellipsometric studies of the optical gradient of NaNbO3 thin films were performed in the photon energy range of 1.24–4.96 eV. Effective values of the complex refractive index and thickness nonuniformity, roughness, and depth profile of the real part of the refractive index were evaluated. An increase of the refractive index with increasing of the sample thickness was observed and discussed. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1