Počet záznamů: 1
A new method for mechanical testing of thin films: application to Aluminum
- 1.
SYSNO ASEP 0324017 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název A new method for mechanical testing of thin films: application to Aluminum Překlad názvu Nová metoda mechanického zkoušení tenkých vrstev: aplikace na hliník Tvůrce(i) Kruml, Tomáš (UFM-A) RID, ORCID
Stranyánek, Martin (FZU-D)
Čtvrtlík, Radim (FZU-D) RID, ORCID
Boháč, Petr (FZU-D) RID, ORCID
Vystavěl, T. (CZ)
Pánek, P. (CZ)Zdroj.dok. Journal of Materials Research. - : Springer - ISSN 0884-2914
Roč. 24, - (2009), s. 1353-1360Poč.str. 8 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova microcompression ; FIB ; nanoindentation ; thin films Vědní obor RIV JJ - Ostatní materiály CEP KAN301370701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20410507 - UFM-A (2005-2011) AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) DOI 10.1557/JMR.2009.0154 Anotace A new method for measuring plastic properties of thin films deposited on a substrate is presented. Micrometric cylindrical specimens with the axis perpendicular to the film surface were prepared by milling out the surrounding material using the focused ion beam technique. Such specimens were deformed by means of a nanoindenter outfitted with a flat diamond tip. An equivalent to the macroscopic compressive curve was obtained. Elastic modulus and hardness of the film were then measured using a Berkovich tip. The precise knowledge of the gage length and the independent measurement of elastic properties enable the accurate determination of the stress–strain curve. As compared with the results published in the literature on the specimens with the same dimensions, the studied material deforms less heterogeneously, probably as a consequence of the symmetric crystallographic orientation of the specimens. Pracoviště Ústav fyziky materiálu Kontakt Yvonna Šrámková, sramkova@ipm.cz, Tel.: 532 290 485 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1