Počet záznamů: 1
Thickness dependence of nanofilm elastic modulus
- 1.
SYSNO ASEP 0323549 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Thickness dependence of nanofilm elastic modulus Překlad názvu Závislost modulu pružnosti nanofilmu na jeho tloušťce Tvůrce(i) Fedorchenko, Alexander I. (UT-L) RID
Wang, A. B. (TW)
Cheng, H.H. (TW)Zdroj.dok. Applied Physics Letters. - : AIP Publishing - ISSN 0003-6951
Roč. 94, č. 15 (2009), s. 152111-152113Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova nanofilm ; elastic modulus ; thickness dependence Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEZ AV0Z20760514 - UT-L (2005-2011) UT WOS 000265285200045 DOI 10.1063/1.3120763 Anotace Young’s modulus is a fundamental physical parameter that determines both the mechanic and electronic properties of a solid thin film. In here, we show that the elastic modulus is not a constant as that of conventional treatment but varies with film thickness. It has been shown that there exists some film thickness hb when the surface energy comes into play. The hb is inverse proportional to the bulk Young’s modulus and depends strongly on the in-plain strain. For Si nanofilms, the dimensionless elastic modulus E/Ebulk can be presented as a power function of the dimensionless film thickness h/hb. Pracoviště Ústav termomechaniky Kontakt Marie Kajprová, kajprova@it.cas.cz, Tel.: 266 053 154 ; Jana Lahovská, jaja@it.cas.cz, Tel.: 266 053 823 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1