SYSNO ASEP | 0303940
|
---|
Druh ASEP | J - Článek v odborném periodiku
|
---|
Zařazení RIV | J - Článek v odborném periodiku
|
---|
Zařazení RIV | M - Uspořádání konference
|
---|
Poddruh J | Ostatní články
|
---|
Název | Doubly charged ion emission in sputtering of monocrystalline fluorides
|
---|
Tvůrce(i) | Lörinčík, Jan (UFCH-W) Šroubek, Zdeněk (URE-Y)
|
---|
Zdroj.dok. | Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. - : Elsevier
- ISSN 0168-583X
Roč. 187, č. 4 (2002), s. 447-450
|
---|
Poč.str. | 4 s.
|
---|
Akce | Atomic Collisions in Solids ICACS /19./
|
---|
Druh akce | K - Konference
|
---|
Datum konání | 29.07.2001-03.08.2001
|
---|
Místo konání | Paris
|
---|
Země | FR - Francie
|
---|
Typ akce | WRD
|
---|
Jazyk dok. | eng - angličtina
|
---|
Země vyd. | NL - Nizozemsko
|
---|
Klíč. slova | sputtering ; molecular electronic states ; secondary ion emission
|
---|
Vědní obor RIV | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
|
---|
CEP | IAA1067801 GA AV ČR - Akademie věd
|
---|
| GA202/99/0881 GA ČR - Grantová agentura ČR
|
---|
CEZ | AV0Z2067918 - URE-Y
|
---|
Anotace | Sputtering of monocrystalline CeF3, LaF3 (doped with Eu), CaF2, and CaCeF2 surfaces by Ar.sup.+.sup. ions with impact energies 500 - 5000 eV has been performed. The emission of Ce.sup.+.sup., Ce.sup.++.sup., La.sup.+.sup., La.sup.++.sup., Eu.sup.+.sup., Eu.sup.++.sup., Ca.sup.+.sup., Ca.sup.++.sup., and F.sup.+.sup. has been investigated by a quadrupole SIMS.
|
---|
Pracoviště | Ústav fotoniky a elektroniky
|
---|
Kontakt | Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
|
---|
Rok sběru | 2003
|
---|