Počet záznamů: 1  

Doubly charged ion emission in sputtering of monocrystalline fluorides

  1. 1.
    SYSNO ASEP0303940
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVM - Uspořádání konference
    Poddruh JOstatní články
    NázevDoubly charged ion emission in sputtering of monocrystalline fluorides
    Tvůrce(i) Lörinčík, Jan (UFCH-W)
    Šroubek, Zdeněk (URE-Y)
    Zdroj.dok.Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. - : Elsevier - ISSN 0168-583X
    Roč. 187, č. 4 (2002), s. 447-450
    Poč.str.4 s.
    AkceAtomic Collisions in Solids ICACS /19./
    Druh akceK - Konference
    Datum konání29.07.2001-03.08.2001
    Místo konáníParis
    ZeměFR - Francie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovasputtering ; molecular electronic states ; secondary ion emission
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPIAA1067801 GA AV ČR - Akademie věd
    GA202/99/0881 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z2067918 - URE-Y
    AnotaceSputtering of monocrystalline CeF3, LaF3 (doped with Eu), CaF2, and CaCeF2 surfaces by Ar.sup.+.sup. ions with impact energies 500 - 5000 eV has been performed. The emission of Ce.sup.+.sup., Ce.sup.++.sup., La.sup.+.sup., La.sup.++.sup., Eu.sup.+.sup., Eu.sup.++.sup., Ca.sup.+.sup., Ca.sup.++.sup., and F.sup.+.sup. has been investigated by a quadrupole SIMS.
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2003

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.