Počet záznamů: 1  

Ellipsometry and LIMM investigations of the interaction between PZT thin films and platinum electrodes and air

  1. 1.
    SYSNO ASEP0133423
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JOstatní články
    NázevEllipsometry and LIMM investigations of the interaction between PZT thin films and platinum electrodes and air
    Tvůrce(i) Deineka, Alexander (FZU-D)
    Glinchuk, M. D. (UA)
    Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID
    Suchaneck, G. (DE)
    Sandner, T. (DE)
    Gerlach, G. (DE)
    Zdroj.dok.Ferroelectrics - ISSN 0015-0193
    Roč. 254, - (2001), s. 205-211
    Poč.str.7 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovaferroelecric film ; depth profile ; interface interaction
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPGA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z1010914 - FZU-D
    AnotaceIn this work we present new results of investigation of PbZr0.235Ti0.765O3 (PTZ) films deposited onto Si/SiO2/adhesion layer/(111) Pt substrate by RF sputtering. Optical constants of PZT films, refraction index depth profile and polarization profile were determined.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktEva Pulcmanová, pulcman@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2002