Počet záznamů: 1
Ellipsometry and LIMM investigations of the interaction between PZT thin films and platinum electrodes and air
- 1.
SYSNO ASEP 0133423 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Ellipsometry and LIMM investigations of the interaction between PZT thin films and platinum electrodes and air Tvůrce(i) Deineka, Alexander (FZU-D)
Glinchuk, M. D. (UA)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Suchaneck, G. (DE)
Sandner, T. (DE)
Gerlach, G. (DE)Zdroj.dok. Ferroelectrics. - : Taylor & Francis - ISSN 0015-0193
Roč. 254, - (2001), s. 205-211Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova ferroelecric film ; depth profile ; interface interaction Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace In this work we present new results of investigation of PbZr0.235Ti0.765O3 (PTZ) films deposited onto Si/SiO2/adhesion layer/(111) Pt substrate by RF sputtering. Optical constants of PZT films, refraction index depth profile and polarization profile were determined. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2002
Počet záznamů: 1