Počet záznamů: 1
Modern Research and Educational Topics in Microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0094363 Druh ASEP M - Kapitola v monografii Zařazení RIV C - Kapitola v knize Název Very Low Energy Scanning Electron Microscopy Překlad názvu Rastrovací elektronová mikroskopie na velmi nízkých energiích Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Modern Research and Educational Topics in Microscopy , 2. - Badajoz : Formatex, 2007 / Méndez-Vilas A. ; Diaz J. - ISBN 978-84-611-9420-9 Rozsah stran s. 795-804 Poč.str. 10 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. ES - Španělsko Klíč. slova electron optics ; scanning electron microscopy ; low energy electrons ; cathode lens mode ; surfaces Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA102/05/2327 GA ČR - Grantová agentura ČR GA202/04/0281 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace The method of very low energy scanning electron microscopy below about 50 eV is treated in full, starting from physics of interaction of very slow electrons with solids, through principle of deceleration of the primary electron beam in the SEM by means of the cathode lens and properties of this assembly, description of contrast mechanisms, up to presentation of results of demonstration experiments performed on families of samples important in various branches of materials science. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2008
Počet záznamů: 1