Počet záznamů: 1
Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK
- 1.
SYSNO ASEP 0091516 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK Překlad názvu Studium hloubkového profilu poškození polzmeru PEEK ozářeného ionty Tvůrce(i) Vacík, Jiří (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
Červená, Jarmila (UJF-V)
Apel, P. Yu. (RU)
Posta, S. (CZ)
Kobayashi, Y. (JP)Zdroj.dok. Surface and Coatings Technology. - : Elsevier - ISSN 0257-8972
Roč. 201, 19-20 (2007), s. 8370-8372Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova Oxygen irradiation ; Poly-aryl-ether-ether ketone ; Thermal neutron depth profiling (TNDP) Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače CEP 1H-PK2/05 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu 1P04LA213 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011) Anotace The thin PEEK film was irradiated by the 2 MeV O+ ions up to the fluence 6-1014 ions/cm2. The depth profiles of the free radicals in the ion-modified PEEK were traced by the Li+ ions incorporated to a damaged area of PEEK by exposing the sample to a 5 mol water solution of LiCl. The depth distributions of the free radicals in the inspected PEEK specimens were found fractioned (for higher fluences) into two distinct parts that followed both electronic and nuclear transfer energy distributions (predicted by the TRIM code). The Li decoration – TNDP was also applied for the study of the free radical depth profile evolution induced by the thermal processing of the samples in vacuum. The evolution was studied in a broad range of temperatures from RT to the melting point of the polymer. The thermal annealing led to a process of gradual redistribution and annihilation of the free radicals. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2008
Počet záznamů: 1