Počet záznamů: 1  

Microwave plasma ion sources for selected ion flow tube mass spectrometry: Optimizing their performance and detection limits for trace gas analysis

  1. 1.
    SYSNO ASEP0088033
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JOstatní články
    NázevMicrowave plasma ion sources for selected ion flow tube mass spectrometry: Optimizing their performance and detection limits for trace gas analysis
    Překlad názvuMikrovlnné plazmatické iontové zdroje pro hmotnostní spektrometrii v proudové trubici s vybranými ionty. Optimalizace jejich výkonnosti a detekčních limitů pro analýzu stopových plynů
    Tvůrce(i) Španěl, Patrik (UFCH-W) RID, ORCID
    Dryahina, Kseniya (UFCH-W) RID, ORCID
    Smith, D. (GB)
    Zdroj.dok.International Journal of Mass Spectrometry. - : Elsevier - ISSN 1387-3806
    Roč. 267, 1-3 (2007), s. 117-124
    Poč.str.8 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovamicrowave plasma ion source ; selected ion flow tube mass spectrometry ; SIFT-MS ; breath analysis
    Vědní obor RIVCF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
    CEPGA202/06/0776 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z40400503 - UFCH-W (2005-2011)
    DOI10.1016/j.ijms.2007.02.023
    AnotaceThe performance of the ion sources used in selected ion flow tube mass spectrometry, SIFT-MS, instruments is paramount in determining their sensitivities and detection limits for trace gas analysis. The microwave discharge plasma ion source that is currently used for the production of currents of the precursor H3O+, NO+ and O2+ ions for SIFT-MS is described, and the ion chemistry occurring within the plasma and the dissociation of the precursor ions on the helium carrier gas are considered. Thus, it is shown that the most suitable ion source gas composition is a mixture comprising maximal water vapour and minimal air at the lowest total pressure at which the discharge is sustained and stable. It is also shown that the injection energies of the precursor ions into the helium carrier gas must be kept low to minimize collisional dissociation of the ions and thus to minimize the fraction of reactive impurity ions in the carrier gas.
    PracovištěÚstav fyzikální chemie J.Heyrovského
    KontaktMichaela Knapová, michaela.knapova@jh-inst.cas.cz, Tel.: 266 053 196
    Rok sběru2008
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.