SYSNO ASEP | 0081154
|
---|
Druh ASEP | J - Článek v odborném periodiku
|
---|
Zařazení RIV | Záznam nebyl označen do RIV
|
---|
Poddruh J | Ostatní články
|
---|
Název | Laser tests of silicon detectors
|
---|
Překlad názvu | Testy křemíkových detektorů laserovým zářením
|
---|
Tvůrce(i) | Doležal, Z. (CZ) Escobar, C. (ES) Gadomski, S. (PL) Garcia, C. (ES) Gonzales, S. (ES) Kodyš, Peter (URE-Y) Kubík, P. (CZ) Lacasta, C. (ES) Marti, S. (ES) Mitsou, V. A. (ES) Moorhead, G. F. (AU) Phillips, P. W. (GB) Řezníček, P. (CZ) Slavík, Radan (URE-Y)
|
---|
Zdroj.dok. | Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. - : Elsevier
- ISSN 0168-9002
Roč. 573, 1/2 (2007), s. 12-15
|
---|
Poč.str. | 4 s.
|
---|
Akce | International Conference on Position-Sensitive Detectors - PSD /7./
|
---|
Datum konání | 12.09.2005-16.09.2005
|
---|
Místo konání | Liverpool
|
---|
Země | GB - Velká Británie
|
---|
Typ akce | WRD
|
---|
Jazyk dok. | eng - angličtina
|
---|
Země vyd. | NL - Nizozemsko
|
---|
Klíč. slova | semiconductor devices
|
---|
Vědní obor RIV | BH - Optika, masery a lasery
|
---|
CEP | KJB200670601 GA AV ČR - Akademie věd
|
---|
CEZ | AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011)
|
---|
Anotace | This paper collects experiences from the development of a silicon sensor laser testing setup and from tests of silicon strip modules (ATLAS End-cap SCT), pixel modules (DEPFET) and large-area diodes using semiconductor lasers.
|
---|
Pracoviště | Ústav fotoniky a elektroniky
|
---|
Kontakt | Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
|
---|
Rok sběru | 2007
|
---|