Počet záznamů: 1  

Laser tests of silicon detectors

  1. 1.
    SYSNO ASEP0081154
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Poddruh JOstatní články
    NázevLaser tests of silicon detectors
    Překlad názvuTesty křemíkových detektorů laserovým zářením
    Tvůrce(i) Doležal, Z. (CZ)
    Escobar, C. (ES)
    Gadomski, S. (PL)
    Garcia, C. (ES)
    Gonzales, S. (ES)
    Kodyš, Peter (URE-Y)
    Kubík, P. (CZ)
    Lacasta, C. (ES)
    Marti, S. (ES)
    Mitsou, V. A. (ES)
    Moorhead, G. F. (AU)
    Phillips, P. W. (GB)
    Řezníček, P. (CZ)
    Slavík, Radan (URE-Y)
    Zdroj.dok.Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. - : Elsevier - ISSN 0168-9002
    Roč. 573, 1/2 (2007), s. 12-15
    Poč.str.4 s.
    AkceInternational Conference on Position-Sensitive Detectors - PSD /7./
    Datum konání12.09.2005-16.09.2005
    Místo konáníLiverpool
    ZeměGB - Velká Británie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovasemiconductor devices
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPKJB200670601 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011)
    AnotaceThis paper collects experiences from the development of a silicon sensor laser testing setup and from tests of silicon strip modules (ATLAS End-cap SCT), pixel modules (DEPFET) and large-area diodes using semiconductor lasers.
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2007
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.