Počet záznamů: 1
About the information depth of backscattered electron imaging
- 1.Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
About the information depth of backscattered electron imaging.
Journal of Microscopy. Roč. 266, č. 3 (2017), s. 335-342. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 1.693, rok: 2017
http://hdl.handle.net/11104/0273494
Počet záznamů: 1