Počet záznamů: 1  

Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution

  1. 1.
    Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
    Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution.
    Physica Status Solidi C. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 704-707. ISSN 1862-6351
    http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
    http://hdl.handle.net/11104/0188466
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.