Počet záznamů: 1
Damage studies of multilayer optics for XUV free electron lasers
- 1.Louis, E. - Khorsand, A.R. - Sobierajski, R. - van Hattum, E.D. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Jastrow, U. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Tiedtke, K.I. - Gaudin, J. - Gullikson, E.M. - Bijkerk, F.
Damage studies of multilayer optics for XUV free electron lasers.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610I /1-73610I /6. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
http://dx.doi.org/10.1117/12.822257
http://hdl.handle.net/11104/0180314
Počet záznamů: 1