Počet záznamů: 1  

'All-inclusive' imaging of the rutile TiO.sub.2./sub.(110) surface using NC-AFM

  1. 1.
    Bechstein, R. - González, C. - Schütte, J. - Jelínek, Pavel - Pérez, R. - Kühnle, A.
    'All-inclusive' imaging of the rutile TiO2(110) surface using NC-AFM.
    Nanotechnology. Roč. 20, č. 50 (2009), 505703/1-505703/7. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
    Impakt faktor: 3.137, rok: 2009
    http://hdl.handle.net/11104/0179996
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.