Počet záznamů: 1
Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
- 1.Nelson, A.J. - Toleikis, S. - Chapman, H. - Bajt, S. - Krzywinski, J. - Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Burian, T. - Kozlová, Michaela - Fäustlin, R.R. - Nagler, B. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Dzelzainis, T. - Renner, Oldřich - Saksl, K. - Khorsand, A.R. - Heimann, P.A. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. - Iwan, B. - Andreasson, J. - Timneanu, N. - Fajardo, M. - Wark, J. S. - Riley, D. - Tschentscher, T. - Hajdu, J. - Lee, R. W.
Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions.
Optics Express. Roč. 17, č. 20 (2009), s. 18271-18278. ISSN 1094-4087
Impakt faktor: 3.278, rok: 2009
http://hdl.handle.net/11104/0178851
Počet záznamů: 1