Počet záznamů: 1
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
- 1.Mikel, Břetislav - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology.
Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 277: 1-8. ISBN 978-0-9867183-0-4.
[Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa (CA), 04.08.2010-06.08.2010]
http://hdl.handle.net/11104/0191760
Počet záznamů: 1