Počet záznamů: 1  

A high resolution x-ray spectrometer utilizing Kirkpatrick-Baez optics and off-plane gratings

  1. 1.
    McEntaffer, R.L. - Hudec, René - Murray, N.J. - Holland, A.D.
    A high resolution x-ray spectrometer utilizing Kirkpatrick-Baez optics and off-plane gratings.
    EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space. Bellingham: SPIE, 2009 - (Hudec, R.; Pina, L.), 736014-1-736014-10. Proceedings of SPIE, 7360. ISBN 9780819476340. ISSN 0277-786X.
    [EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space. Prague (CZ), 20.04.2009-22.04.2009]
    http://hdl.handle.net/11104/0183377
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.