Počet záznamů: 1  

Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam

  1. 1.
    Bajt, S. - Chapman, H.N. - Nelson, A.J. - Lee, R. W. - Toleikis, S. - Mirkarimi, P. - Alameda, J.B. - Baker, S. L. - Vollmer, H. - Graff, R.T. - Aquila, A. - Gullikson, E.M. - Meyer Ilse, J. - Spiller, E.A. - Krzywinski, J. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Hajdu, J. - Tschentscher, T.
    Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam.
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610J/1-73610J/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822498
    http://hdl.handle.net/11104/0180334
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.