Počet záznamů: 1  

Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films

  1. 1.
    Knotek, P. - Tichý, Ladislav
    Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films.
    Thin Solid Films. Roč. 517, č. 5 (2009), s. 1837-1840. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
    Impakt faktor: 1.727, rok: 2009
    http://hdl.handle.net/11104/0169011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.