Počet záznamů: 1  

Quantitative depth profiling of K-doped fullerene films using XPS and SIMS

  1. 1.
    Oswald, S. - Janda, Pavel - Dunsch, L.
    Quantitative depth profiling of K-doped fullerene films using XPS and SIMS.
    Microchimica Acta. Roč. 141, 1-2 (2003), s. 79-85. ISSN 0026-3672. E-ISSN 1436-5073
    Impakt faktor: 1.050, rok: 2001
    http://hdl.handle.net/11104/0132039
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.