Počet záznamů: 1
Scanning thermal microscopy of thermoelectric nanostructures
- 1.0470064 - FZÚ 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vaniš, Jan - Zelinka, Jiří - Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Kocourek, Tomáš - Remsa, Jan - Navrátil, Jiří
Scanning thermal microscopy of thermoelectric nanostructures.
Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-05864S; GA ČR(CZ) GA13-33056S
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: thermoelectric layer * scanning thermal microscopy * pulsed laser deposition * laser deposition * secondary ion mass spectrometry
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus; CA - Anorganická chemie (UMCH-V)
Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267800
Počet záznamů: 1