Počet záznamů: 1
Multiple Probe Photonic Force Microscopy
- 1.0368828 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Zemánek, Pavel
Multiple Probe Photonic Force Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 682-687. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: photonic force microscopy * scanning probe microscopy * two-photon fluorescence * time-sharing traps
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203061
Počet záznamů: 1